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    晶圆表面平整度测试仪

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-表面形貌测试

    产品品牌

    CRYSTAPOL

    库???????存:

    1

    产???????地:

    英国

    数???????量:

    减少 增加

    价???????格:

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    交易保障 担保交易 网银支付

    客服电话:4001027270

    半导体商城认证商家 展开

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    品牌:CRYSTAPOL

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-表面形貌测试



    用途:用来测量晶圆表面的平整度

    主要性能指标?Main performance index

    序号

    性能指标

    1

    可测试样品尺寸:直径 ≤152mm
    Test sample size: diameter less than 152mm

    2

    电源:220V, 50HZ
    Power supply: 220V, 50HZ

    3

    激光源:670nm
    Laser source: 670nm

    4

    基准滤镜平整度:λ/10
    Reference: lambda /10 flatness filter

    5

    配置15寸液晶显示器

    With LED display ?

    6

    设备尺寸:605mm x 400mm x 500mm (L x H x W)
    Size:605mm x 400mm x 500mm (L x H x W)

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    提问:
    ?

    机器有没有操作台,是只能定点测量吗,能不能移动测量?

    sh66a??2017-07-07

    请问显示分辨率是多少,是扫描式观测吗??

    gfty??2017-07-12

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